日本KETT LZ-990渦磁兩用式膜厚計

日本KETT LZ-990渦磁兩用式膜厚計技術(shù)參數(shù)：

測定方法：電磁、渦電流式兼用(自動識別)

測定對象：磁性金屬上非磁性涂鍍層、非磁性金屬上絕緣層

測量范圍： 0-2000μm/0-80mils

測量精度： <50μm±1μm >50μm<1000μm±2% >1000μm±3%

測試面積： ≥5x5mm

使用溫度范圍： 0-40℃

分辨率： ≤100μm 0.1μm >100μm 1μm

數(shù)據(jù)統(tǒng)計： 測試次數(shù)、較大/較小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差

應(yīng)用程序存儲器： 電磁式、渦流式各8種，共計16條校正曲線的記憶

外部輸出： 電腦(USB)或打印機(jī)(RS-232C)

尺寸、質(zhì)量： 82(W)×99.5(D)×32(H)毫米，約160克

附件： 零板、標(biāo)準(zhǔn)板、電池、合格證、說明書、掛件

數(shù)據(jù)存儲： 約1000個，較小值為0.1μm

功能：測量數(shù)據(jù)存儲，刪除

數(shù)據(jù)輸出，組區(qū)分，自動電源ON / OFF功能

上下限的設(shè)定，統(tǒng)計計算，背光功能，單位設(shè)定

包裝清單：主機(jī) 3個標(biāo)準(zhǔn)片，一個F/NF基體