日本KETT LZ-200J兩用膜厚計

日本KETT LZ-200J兩用膜厚計技術(shù)參數(shù)：

測定方法：電磁誘導式+渦電流式

測定對象：磁性金屬上的非磁性薄膜及非磁性金屬上的絕緣膜

測量范圍：

電磁式：0～1500μm或60.00 mils

渦流式：0～800μm或32.00 mils

測量精度：

電磁式：<15μm±0.3μm ≥15μm±2%

渦流式：<50μm±1μm ≥50μm±2%

測試面積： 3*3mm

測試單位：公/英制

分辨率： ≤100μm0.1μm ≥100μm1.0μm

統(tǒng)計功能： 測試次數(shù)、較大/較小值、平均值、標準偏差

顯示方式：LED數(shù)顯

探針：一點接觸恒壓式(LEP - J，LHP - J)

外部輸出： RS-232C接口(傳送速度2400 bps)

尺寸、質(zhì)量： 120(W)×250(D)×55(H)毫米，1000g

附件： 探頭/基體/校正標準片/電池/V型塊/變壓器/皮套/合格證/說明書

附加功能：內(nèi)置打印功能、儲存統(tǒng)計功能、連接電腦功能(RS232標準接口)

界限設(shè)定：可設(shè)定上/下限

電源：電源AC 100V(50 / 60Hz)或電池1.5 V(單3堿)