日本KETT LE-373磁感應(yīng)膜厚計

日本KETT LE-373磁感應(yīng)膜厚計技術(shù)參數(shù)：

測試方法：電磁感應(yīng)

應(yīng)用：磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層

測試范圍：0-2500μm或99.0mils

測試精度：<50 μm ± 1μ m、50 μm to <1000 μm ± 2%、≥ 1000 μm ± 3%

分辨率：0.1μm (<100μm), 1.0μm (≥100μm)

數(shù)據(jù)存儲：大約 39000 個

應(yīng)用存儲： 100 種校準(zhǔn)曲線

符合標(biāo)準(zhǔn)：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5

功能：多達(dá)16種的功能設(shè)置

測試探頭：點觸式(LEP-J)

顯示方式：LCD數(shù)字顯示器，帶背光

外接輸出：PC(USB或RS-232C)或者打印輸出 (RS-232C)

供電電壓：1.5 ("AA" 堿性電池) x 4

電源功率：80mW (背光燈關(guān)時)

電池壽命：100 小時(背光燈關(guān)時連續(xù)操作)

操作環(huán)境：0-40℃

大小重量：75(W) x 145(D) x 31(H) mm, Net 0.34 kg